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| 金相显微镜 >> YF400D正置金相显微镜
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yf400d正置金相显微镜
采用UIS无限远光学系统，长工作距离物镜可与进口物镜互换、，用于金相、岩矿等组织评定，半导体、集成电路圆晶、芯片高倍检验，新材料涂层深度、腐蚀孔洞等测量。配合图像分析软件进行定量分析与评级。
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中文名称 |
P/N |
数量 |
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1 |
显微镜镜体 |
UZ-40 |
1 |
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2 |
三目观察筒 |
UM3 |
1 |
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3 |
机械式载物台 |
U-XY |
1 |
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4 |
试样压片组 |
U-YP |
1 |
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5 |
灯室 |
U-20 |
1 |
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6 |
灯泡 |
6V20W |
2 |
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7 |
高精度平场物镜 |
EPL4× |
1 |
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EPL10× |
1 |
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EPL20× |
1 |
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EPL40× |
1 |
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PC80× |
1 |
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8 |
目镜 |
WH10× |
1 |
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9 |
滤色片 |
LS |
1 |
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10 |
压平器 |
YPQ |
1 |
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11 |
偏光片 |
UZ-PO |
1 |
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选配件： |
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中文名称 |
P/N |
数量 |
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1 |
金相图像分析软件 |
V2.17 |
1 |
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2 |
130万像素数字CCD |
DIG130 |
1 |
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3 |
显微数码照相装置 |
DCK |
1 |
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| 点击数：173 录入时间：2009-2-3 【打印此页】 【返回】 |
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